Вид спереди

SmartSPM™ – сканирующий зондовый микроскоп

Универсальный прибор для изучения свойств поверхности, а также объектов на нанометровом уровне. Идеально подходит для университетов и научных лабораторий там, где прибор имеет большое количество пользователей с разным уровнем подготовки.

OmegaScope - конфигурация на отражение

OmegaScope™ -  СЗМ с конфокальным рамановским и флюоресцентным спектрометром

Уникальная комбинированная система, позволяющая совмещать оптическую спектроскопию с методиками СЗМ.

fpN20

Расходные материалы для СЗМ

Большой выбор кантилеверов, калибровочных решеток, а также тестовых образцов.

Экотайм

Расходные материалы, оборудование и услуги в микро- и наноэлектронике

Продукция компании «ЭкоТайм»
Услуги компании Nanometrology International, Inc.

Последние новости


cholesteric liquid-crystalline dispersion (animation)

Перемещение частицы ХЖКД комплекса (ДНК-Gd3+) по поверхности ядерного мембранного фильтра. Размер скана 4 микрона. Читать далее… »

В новой версии популярного пакета для обработки изображений СЗМ Gwyddion 2.19 по-мимо прочих улучшений появилась поддержка импорта файлов AIST-NT.

Далее…!!

Rusnanotech’09

Rusnanotech

Уважаемые господа!

Мы рады сообщить вам, что компания АИСТ-НТ примет участие во Втором международном форуме по нанотехнологиям,  который будет проходить в Москве, в выставочном комплексе «Экспоцентр», с 6 по 8 октября 2009 г.

На Форуме мы представим наши последние разработки и достижения,  вы сможете проконсультироваться с нашими специалистами по всем интересующим вас вопросам.

Мы будем располагаться на стенде C05, северная сторона (стенд инвестиционной группы «Инкубит»).

C32H66

c32h66 (fig. 1)

Топографическое изображение поверхности ламеллярной структуры алканового слоя C32H66 на графите, полученное с помощью кантилевера fpN01-DLC. Размер скана: 145×145 нм. На изображении ясно видны несколько интересных дефектов на пересечении островков с разной ориентацией.

c32h66 (fig. 2) c32h66 (fig. 3)

Два последовательных топографических изображения одной и той же области. Размера скана: 75×75 нм.  Дефекты ламеллярной структуры гораздо лучше видны на данных изображениях.

c32h66 (fig. 4) c32h66 cross section

Топографическое изображение и сечение. Размер скана 50×50 нм. Ширина ламели около 4 нм.

C28H58

c28h58 c28h58_3d

Ламеллярная структура алканового слоя C28H58 на графите. Топография. Размер скана: 100х100 нм. Диапазон по Z 1.3Å.

Архивы