AIST-NT
Entries
(RSS)
Comments
(RSS)
Home
Продукция
SmartSPM™ – сканирующий зондовый микроскоп
Технические характеристики SmartSPM
Технология быстрого сканирования «MagicScan»
OmegaScope™ – СЗМ с конфокальным рамановским и флюоресцентным спектрометром
Технические характеристики OmegaScope
Расходные материалы для СЗМ
Стандартные кантилеверы
Кантилеверы для сверхвысокого разрешения
Высокоориентированный пиролитический графит (ВОПГ)
Расходные материалы, обородувание и услуги в микро- и наноэлектронике
Скачать
Галерея
О компании
Информация о нашей компании
Наши портреты
Телефоны и адреса
Схема проезда
Схема проезда
Ул. Панфиловский проспект, д. 4, Москва, г. Зеленоград, 124460, Россия
+7-495-229-96-41, 229-96-42
Рубрики
Наша продукция
SmartSPM
Новости
Применения СЗМ
Биология
Быстрое сканирование
Материаловедение
Нанолитография
Полимеры
Раман / TERS
Тестовые образцы
События
Архивы
Выберите месяц
Февраль 2010
Декабрь 2009
Октябрь 2009
Август 2009
Июль 2009
Июнь 2009
Апрель 2009
Март 2009
Январь 2009
Декабрь 2008
Ссылки
English
Веб магазин СЗМ кантилеверов
Новые записи
ХЖКД (холестерическая жидкокристаллическая дисперсия)
Поддержка формата AIST-NT в программе Gwyddion
Rusnanotech’09
C32H66
C28H58
Демонстрация быстрого сканирования на 30 мкм скане
Демонстрация быстрого сканирования на 12 мкм скане
Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)
Сертификат об утверждении типа средств измерений
Новые TERS результаты измерения Si/SiO2, полученные на OmegaScope (Nanofinder 30 – AIST-NT AFM)
Новые комментарии
None found
Облако тэгов
Быстрое сканирование
МСМ
комбинационное рассеяние
магнитно-силовая микроскопия
наноманипуляции
Gwyddion
Raman
Rusnanotech
SmartSPM
TERS
Top mode