AIST-NT
Entries
(RSS)
Comments
(RSS)
Home
Продукция
SmartSPM™ – сканирующий зондовый микроскоп
Технические характеристики SmartSPM
Технология быстрого сканирования “MagicScan”
OmegaScope™ – СЗМ с конфокальным рамановским и флюоресцентным спектрометром
Технические характеристики OmegaScope
Расходные материалы для СЗМ
Стандартные кантилеверы
Кантилеверы для сверхвысокого разрешения
Высокоориентированный пиролитический графит (ВОПГ)
Расходные материалы, обородувание и услуги в микро- и наноэлектронике
Скачать
Галерея
О компании
Информация о нашей компании
Наши портреты
Телефоны и адреса
Схема проезда
Наша компания желает Вам счастливого Нового года!
Wednesday
Jan 14,2009 05:22 PM
By yalovenko
In
Новости
Силовая литография на подложке из поликарбоната.
RSS
feed for comments on this post
TrackBack
URI
Leave a reply
You must be
logged in
to post a comment.
Categories
Наша продукция
SmartSPM
Новости
Применения СЗМ
Биология
Быстрое сканирование
Материаловедение
Нанолитография
Полимеры
Раман / TERS
Тестовые образцы
События
Archives
Select Month
May 2010
February 2010
December 2009
October 2009
August 2009
July 2009
June 2009
April 2009
March 2009
January 2009
December 2008
Ссылки
English
Веб магазин СЗМ кантилеверов
Новые записи
Кристалл AgNO3
ХЖКД (холестерическая жидкокристаллическая дисперсия)
Поддержка формата AIST-NT в программе Gwyddion
Rusnanotech’09
C32H66
C28H58
Демонстрация быстрого сканирования на 30 мкм скане
Демонстрация быстрого сканирования на 12 мкм скане
Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)
Сертификат об утверждении типа средств измерений
Новые комментарии
None found
Облако тэгов
Быстрое сканирование
МСМ
комбинационное рассеяние
магнитно-силовая микроскопия
наноманипуляции
Gwyddion
Raman
Rusnanotech
SmartSPM
TERS
Top mode
Leave a reply
You must be logged in to post a comment.