AIST-NT

  • Entries (RSS)
  • Comments (RSS)
  • Home
  • Продукция
    • SmartSPM™ – сканирующий зондовый микроскоп
      • Технические характеристики SmartSPM
      • Технология быстрого сканирования “MagicScan”
    • OmegaScope™ – СЗМ с конфокальным рамановским и флюоресцентным спектрометром
      • Технические характеристики OmegaScope
    • Расходные материалы для СЗМ
      • Стандартные кантилеверы
      • Кантилеверы для сверхвысокого разрешения
      • Высокоориентированный пиролитический графит (ВОПГ)
    • Расходные материалы, обородувание и услуги в микро- и наноэлектронике
  • Скачать
  • Галерея
  • О компании
    • Информация о нашей компании
    • Наши портреты
    • Телефоны и адреса
    • Схема проезда

Кристалл AgNO3

  • Wednesday May 12,2010 04:42 PM
  • By yalovenko
  • In Материаловедение, Применения СЗМ
Кристалл AgNO3


  • RSS feed for comments on this post

  • Leave a reply

    You must be logged in to post a comment.

Categories

  • Наша продукция
    • SmartSPM
  • Новости
  • Применения СЗМ
    • Биология
    • Быстрое сканирование
    • Материаловедение
    • Нанолитография
    • Полимеры
    • Раман / TERS
    • Тестовые образцы
  • События

Archives

Ссылки

  • English
  • Веб магазин СЗМ кантилеверов

Новые записи

  • Кристалл AgNO3
  • ХЖКД (холестерическая жидкокристаллическая дисперсия)
  • Поддержка формата AIST-NT в программе Gwyddion
  • Rusnanotech’09
  • C32H66
  • C28H58
  • Демонстрация быстрого сканирования на 30 мкм скане
  • Демонстрация быстрого сканирования на 12 мкм скане
  • Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)
  • Сертификат об утверждении типа средств измерений

Новые комментарии

  • None found

Облако тэгов

    Быстрое сканирование МСМ комбинационное рассеяние магнитно-силовая микроскопия наноманипуляции Gwyddion Raman Rusnanotech SmartSPM TERS Top mode

Copyright © 2010 - AIST-NT is proudly powered by WordPress