Кристалл AgNO3
- Wednesday May 12,2010 04:42 PM
- By yalovenko
- In Материаловедение, Применения СЗМ
![]() |
Перемещение частицы ХЖКД комплекса (ДНК-Gd3+) по поверхности ядерного мембранного фильтра. Размер скана 4 микрона. (more…)
![]() |
Топографическое изображение поверхности ламеллярной структуры алканового слоя C32H66 на графите, полученное с помощью кантилевера fpN01-DLC. Размер скана: 145×145 нм. На изображении ясно видны несколько интересных дефектов на пересечении островков с разной ориентацией.
![]() |
![]() |
Два последовательных топографических изображения одной и той же области. Размера скана: 75×75 нм. Дефекты ламеллярной структуры гораздо лучше видны на данных изображениях.
![]() |
![]() |
Топографическое изображение и сечение. Размер скана 50×50 нм. Ширина ламели около 4 нм.
АСМ сканирование тестовой решетки (шаг 3 мкм, высота 25 нм), полуконтактный метод, резонансная частота кантилевера – 500 кГц, площадь сканирования 30х30 мкм, 400×400 точек. Скорость сканирование увеличивалась с 2 до 20 линий в секунду!