<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>АИСТ-НТ - Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ, АСМ, СТМ, СБОМ) &#187; Применения СЗМ</title>
	<atom:link href="http://www.aist-nt.ru/category/applications/feed/" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>http://www.aist-nt.ru</link>
	<description>Advanced Integrated Tools For Nano Technology</description>
	<lastBuildDate>Sun, 08 Jan 2012 20:00:39 +0000</lastBuildDate>
	<language>en</language>
	<sy:updatePeriod>hourly</sy:updatePeriod>
	<sy:updateFrequency>1</sy:updateFrequency>
	<generator>http://wordpress.org/?v=3.3.1</generator>
		<item>
		<title>С Новым 2012 годом и наилучших пожеланий от команды АИСТ-НТ!</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/670/%d0%a1-%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%bc-2012-%d0%b3%d0%be%d0%b4%d0%be%d0%bc-%d0%b8-%d0%bd%d0%b0%d0%b8%d0%bb%d1%83%d1%87%d1%88%d0%b8%d1%85-%d0%bf%d0%be%d0%b6%d0%b5%d0%bb%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d0%b9-%d0%be/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/670/%d0%a1-%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%bc-2012-%d0%b3%d0%be%d0%b4%d0%be%d0%bc-%d0%b8-%d0%bd%d0%b0%d0%b8%d0%bb%d1%83%d1%87%d1%88%d0%b8%d1%85-%d0%bf%d0%be%d0%b6%d0%b5%d0%bb%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d0%b9-%d0%be/#comments</comments>
		<pubDate>Sun, 08 Jan 2012 20:00:39 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[Нанолитография]]></category>
		<category><![CDATA[Новости]]></category>
		<category><![CDATA[Применения СЗМ]]></category>
		<category><![CDATA[нанолитография]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=670</guid>
		<description><![CDATA[]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/670/%d0%a1-%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%bc-2012-%d0%b3%d0%be%d0%b4%d0%be%d0%bc-%d0%b8-%d0%bd%d0%b0%d0%b8%d0%bb%d1%83%d1%87%d1%88%d0%b8%d1%85-%d0%bf%d0%be%d0%b6%d0%b5%d0%bb%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d0%b9-%d0%be/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Кристалл AgNO3</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/556/%d0%9a%d1%80%d0%b8%d1%81%d1%82%d0%b0%d0%bb%d0%bb-agno3/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/556/%d0%9a%d1%80%d0%b8%d1%81%d1%82%d0%b0%d0%bb%d0%bb-agno3/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 12 May 2010 13:42:42 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[Материаловедение]]></category>
		<category><![CDATA[Применения СЗМ]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=556</guid>
		<description><![CDATA[]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/556/%d0%9a%d1%80%d0%b8%d1%81%d1%82%d0%b0%d0%bb%d0%bb-agno3/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>ХЖКД (холестерическая  жидкокристаллическая дисперсия)</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/536/clcd/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/536/clcd/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 03 Feb 2010 16:53:07 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[Биология]]></category>
		<category><![CDATA[Нанолитография]]></category>
		<category><![CDATA[Новости]]></category>
		<category><![CDATA[Применения СЗМ]]></category>
		<category><![CDATA[Top mode]]></category>
		<category><![CDATA[наноманипуляции]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=536</guid>
		<description><![CDATA[Перемещение частицы ХЖКД комплекса (ДНК-Gd3+) по поверхности ядерного мембранного фильтра. Размер скана 4 микрона. Изображения «твердых» частиц ХЖКД (холестерическая  жидкокристаллическая дисперсия), молекулы ДНК в которых «сшиты» наномостиками, и профиль разрезанной частицы. Частицы иммобилизованы на поверхности ядерного мембранного фильтра. Режим Top Mode. Режим силовой нанолитографии. Образец предоставлен проф. Евдокимов Ю.М., Институт молекулярной биологии им. В. А. [...]]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/536/clcd/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>C32H66</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/515/c32h66/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/515/c32h66/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 05 Aug 2009 13:16:45 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[Полимеры]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=515</guid>
		<description><![CDATA[Топографическое изображение поверхности ламеллярной структуры алканового слоя C32H66 на графите, полученное с помощью кантилевера fpN01-DLC. Размер скана: 145×145 нм. На изображении ясно видны несколько интересных дефектов на пересечении островков с разной ориентацией. Два последовательных топографических изображения одной и той же области. Размера скана: 75×75 нм.  Дефекты ламеллярной структуры гораздо лучше видны на данных изображениях. Топографическое [...]]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/515/c32h66/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>C28H58</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/509/c28h58/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/509/c28h58/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 05 Aug 2009 11:58:10 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[Полимеры]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=509</guid>
		<description><![CDATA[Ламеллярная структура алканового слоя C28H58 на графите. Топография. Размер скана: 100х100 нм. Диапазон по Z 1.3Å.]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/509/c28h58/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Демонстрация быстрого сканирования на 30 мкм скане</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/499/%d0%94%d0%b5%d0%bc%d0%be%d0%bd%d1%81%d1%82%d1%80%d0%b0%d1%86%d0%b8%d1%8f-%d0%b1%d1%8b%d1%81%d1%82%d1%80%d0%be%d0%b3%d0%be-%d1%81%d0%ba%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%80%d0%be%d0%b2%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%8f-2/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/499/%d0%94%d0%b5%d0%bc%d0%be%d0%bd%d1%81%d1%82%d1%80%d0%b0%d1%86%d0%b8%d1%8f-%d0%b1%d1%8b%d1%81%d1%82%d1%80%d0%be%d0%b3%d0%be-%d1%81%d0%ba%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%80%d0%be%d0%b2%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%8f-2/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 08 Jul 2009 13:20:15 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[SmartSPM]]></category>
		<category><![CDATA[Быстрое сканирование]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=499</guid>
		<description><![CDATA[АСМ сканирование тестовой решетки (шаг 3 мкм, высота 25 нм), полуконтактный метод, резонансная частота кантилевера &#8211; 500 кГц, площадь сканирования 30х30 мкм, 400×400 точек. Скорость сканирование увеличивалась с 2 до 20 линий в секунду!]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/499/%d0%94%d0%b5%d0%bc%d0%be%d0%bd%d1%81%d1%82%d1%80%d0%b0%d1%86%d0%b8%d1%8f-%d0%b1%d1%8b%d1%81%d1%82%d1%80%d0%be%d0%b3%d0%be-%d1%81%d0%ba%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%80%d0%be%d0%b2%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%8f-2/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Демонстрация быстрого сканирования на 12 мкм скане</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/493/%d0%94%d0%b5%d0%bc%d0%be%d0%bd%d1%81%d1%82%d1%80%d0%b0%d1%86%d0%b8%d1%8f-%d0%b1%d1%8b%d1%81%d1%82%d1%80%d0%be%d0%b3%d0%be-%d1%81%d0%ba%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%80%d0%be%d0%b2%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%8f/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/493/%d0%94%d0%b5%d0%bc%d0%be%d0%bd%d1%81%d1%82%d1%80%d0%b0%d1%86%d0%b8%d1%8f-%d0%b1%d1%8b%d1%81%d1%82%d1%80%d0%be%d0%b3%d0%be-%d1%81%d0%ba%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%80%d0%be%d0%b2%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%8f/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 08 Jul 2009 13:14:20 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[SmartSPM]]></category>
		<category><![CDATA[Быстрое сканирование]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=493</guid>
		<description><![CDATA[АСМ сканирование тестовой решетки (шаг 3 мкм, высота 25 нм), полуконтактный метод, резонансная частота кантилевера &#8211; 500 кГц, площадь сканирования 12х12 мкм, 300×300 точек. Скорость сканирование увеличивалась с 3 до 30 линий в секунду!]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/493/%d0%94%d0%b5%d0%bc%d0%be%d0%bd%d1%81%d1%82%d1%80%d0%b0%d1%86%d0%b8%d1%8f-%d0%b1%d1%8b%d1%81%d1%82%d1%80%d0%be%d0%b3%d0%be-%d1%81%d0%ba%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%80%d0%be%d0%b2%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%8f/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/480/%d0%9c%d0%b0%d0%b3%d0%bd%d0%b8%d1%82%d0%bd%d0%be-%d1%81%d0%b8%d0%bb%d0%be%d0%b2%d0%b0%d1%8f-%d0%bc%d0%b8%d0%ba%d1%80%d0%be%d1%81%d0%ba%d0%be%d0%bf%d0%b8%d1%8f-%d0%9c%d0%a1%d0%9c/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/480/%d0%9c%d0%b0%d0%b3%d0%bd%d0%b8%d1%82%d0%bd%d0%be-%d1%81%d0%b8%d0%bb%d0%be%d0%b2%d0%b0%d1%8f-%d0%bc%d0%b8%d0%ba%d1%80%d0%be%d1%81%d0%ba%d0%be%d0%bf%d0%b8%d1%8f-%d0%9c%d0%a1%d0%9c/#comments</comments>
		<pubDate>Tue, 30 Jun 2009 10:53:02 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[SmartSPM]]></category>
		<category><![CDATA[Материаловедение]]></category>
		<category><![CDATA[магнитно-силовая микроскопия]]></category>
		<category><![CDATA[МСМ]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=480</guid>
		<description><![CDATA[Исследуйте материалы с помощью сканирующего зондового микроскопа SmartSPM в режиме магнитно-силовой микроскопии! Особенности: - Высокоскоростное сканирование больших площадей ( 100х100 мкм) с высоким разрешением; - Возможность использования оптики с разрешением 1 мкм; - Измерения в магнитном поле. Скачать примеры МСМ измерений]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/480/%d0%9c%d0%b0%d0%b3%d0%bd%d0%b8%d1%82%d0%bd%d0%be-%d1%81%d0%b8%d0%bb%d0%be%d0%b2%d0%b0%d1%8f-%d0%bc%d0%b8%d0%ba%d1%80%d0%be%d1%81%d0%ba%d0%be%d0%bf%d0%b8%d1%8f-%d0%9c%d0%a1%d0%9c/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Новые TERS результаты измерения Si/SiO2, полученные на OmegaScope (Nanofinder 30 &#8211; AIST-NT AFM)</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/435/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%b8%d0%b7%d0%bc%d0%b5%d1%80%d0%b5%d0%bd%d0%b8%d1%8f-sisio2-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/435/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%b8%d0%b7%d0%bc%d0%b5%d1%80%d0%b5%d0%bd%d0%b8%d1%8f-sisio2-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5/#comments</comments>
		<pubDate>Fri, 10 Apr 2009 15:02:28 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[Применения СЗМ]]></category>
		<category><![CDATA[Раман / TERS]]></category>
		<category><![CDATA[Raman]]></category>
		<category><![CDATA[TERS]]></category>
		<category><![CDATA[комбинационное рассеяние]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=435</guid>
		<description><![CDATA[Одновременное измерение АСМ топографии, TERS (Tip Enhanced Raman Scattering) и сдвига частот комбинационного рассеяния на образце Si/SiO2 в режиме на отражение. Скачать результаты TERS в режиме на отражение *Данные получены на демо системе в компании Tokyo Instruments (Токио). *Исследования проведены в рамках специальной программы &#8220;Research Program on Development of Innovative Technology&#8221;, организованной Japan Science and [...]]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/435/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%b8%d0%b7%d0%bc%d0%b5%d1%80%d0%b5%d0%bd%d0%b8%d1%8f-sisio2-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Новые TERS результаты измерения углеродных нанотрубок, полученные на OmegaScope (Nanofinder 30 &#8211; AIST-NT AFM)</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/425/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b5-%d0%bd%d0%b0-omegascope-nanofinder-30/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/425/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b5-%d0%bd%d0%b0-omegascope-nanofinder-30/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 01 Apr 2009 09:22:37 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[Новости]]></category>
		<category><![CDATA[Раман / TERS]]></category>
		<category><![CDATA[TERS]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=425</guid>
		<description><![CDATA[Режим: на просвет Условия измерения: Лазер: 632.8 nm, мощность на образце менее 1 мВт; AFM: бесконтактный режим, амплитуда колебаний кантилевера 7 нм; Время экспозиции &#8211; 0.1 с/точку; Зонд:  СЗМ зонд с напылением золота. *Результаты получены на демо системе в офисе компании Tokyo Instruments Inc. Скачать результаты TERS (режим на просвет)]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/425/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5%d0%bd%d0%bd%d1%8b%d0%b5-%d0%bd%d0%b0-omegascope-nanofinder-30/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
	</channel>
</rss>

