Анодно-окислительная литография на GaAs
- Wednesday Jan 14,2009 04:18 PM
- By yalovenko
- In Нанолитография
 |
Нанолитография на пленке GaAs выполненная методом локального анодного окисления, размер скана 3 микрона.
Категория ‘Применения СЗМ’
ЛАО на GaAs
- Wednesday Jan 14,2009 04:15 PM
- By yalovenko
- In Нанолитография
 |
 |
Нанолитография на пленке GaAs выполненная методом локального анодного окисления, размер скана 400 нм.
C36H74
- Wednesday Jan 14,2009 04:11 PM
- By yalovenko
- In Тестовые образцы
 |
 |
 |
Топография и фазовое изображение алканового слоя C36H74. Бесконтактный метод АСМ. Размер скана 83 нм.
Жесткий диск
- Wednesday Jan 14,2009 04:05 PM
- By yalovenko
- In Тестовые образцы
 |
 |
МСМ изображение жесктого диска Seagate Barracuda 7200.10, ST3750640AS, 750 Гб. Размер скана: 1,8 мкм.
Графит
- Wednesday Jan 14,2009 04:02 PM
- By yalovenko
- In Тестовые образцы
 |
Атомная решетка высокоориентированного пиролитического графита (ВОПГ). Контактный метод АСМ. Размер скана: 32х32 ангстрем.
Categories
Archives
Новые записи
- Кристалл AgNO3
- ХЖКД (холестерическая жидкокристаллическая дисперсия)
- Поддержка формата AIST-NT в программе Gwyddion
- Rusnanotech’09
- C32H66
- C28H58
- Демонстрация быстрого сканирования на 30 мкм скане
- Демонстрация быстрого сканирования на 12 мкм скане
- Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)
- Сертификат об утверждении типа средств измерений
Новые комментарии
- None found