<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><!-- generator="WordPress/abc" -->
<rss version="0.92">
<channel>
	<title>AIST-NT</title>
	<link>http://www.aist-nt.ru</link>
	<description>Advanced Integrated Tools For Nano Technology</description>
	<lastBuildDate>Wed, 12 May 2010 13:42:42 +0000</lastBuildDate>
	<docs>http://backend.userland.com/rss092</docs>
	<language>en</language>
	
	<item>
		<title>Кристалл AgNO3</title>
		<description><![CDATA[]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/556/%d0%9a%d1%80%d0%b8%d1%81%d1%82%d0%b0%d0%bb%d0%bb-agno3/</link>
			</item>
	<item>
		<title>ХЖКД (холестерическая  жидкокристаллическая дисперсия)</title>
		<description><![CDATA[






Перемещение частицы ХЖКД комплекса (ДНК-Gd3+) по поверхности ядерного мембранного фильтра. Размер скана 4 микрона.
Изображения «твердых» частиц ХЖКД (холестерическая  жидкокристаллическая дисперсия), молекулы ДНК в которых «сшиты» наномостиками, и профиль разрезанной частицы. Частицы иммобилизованы на поверхности ядерного мембранного фильтра.








Режим Top Mode.







Режим силовой нанолитографии.








Образец предоставлен проф. Евдокимов Ю.М.,
Институт молекулярной биологии им. В. А. Энгельгардта (ИМБ РАН).
Результаты опубликованы в [...]]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/536/clcd/</link>
			</item>
	<item>
		<title>Поддержка формата AIST-NT в программе Gwyddion</title>
		<description><![CDATA[В новой версии популярного пакета для обработки изображений СЗМ Gwyddion 2.19 по-мимо прочих улучшений появилась поддержка импорта файлов AIST-NT.
Далее&#8230;!!
]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/534/%d0%9f%d0%be%d0%b4%d0%b4%d0%b5%d1%80%d0%b6%d0%ba%d0%b0-%d1%84%d0%be%d1%80%d0%bc%d0%b0%d1%82%d0%b0-aist-nt-%d0%b2-%d0%bf%d1%80%d0%be%d0%b3%d1%80%d0%b0%d0%bc%d0%bc%d0%b5-gwyddion/</link>
			</item>
	<item>
		<title>Rusnanotech&#8217;09</title>
		<description><![CDATA[
Уважаемые господа!
Мы рады сообщить вам, что компания АИСТ-НТ примет участие во Втором международном форуме по нанотехнологиям,  который будет проходить в Москве, в выставочном комплексе &#8220;Экспоцентр&#8221;, с 6 по 8 октября 2009 г.
На Форуме мы представим наши последние разработки и достижения,  вы сможете проконсультироваться с нашими специалистами по всем интересующим вас вопросам.
Мы будем располагаться на стенде [...]]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/530/rusnanotech09/</link>
			</item>
	<item>
		<title>C32H66</title>
		<description><![CDATA[






Топографическое изображение поверхности ламеллярной структуры алканового слоя C32H66 на графите, полученное с помощью кантилевера fpN01-DLC. Размер скана: 145×145 нм. На изображении ясно видны несколько интересных дефектов на пересечении островков с разной ориентацией.








Два последовательных топографических изображения одной и той же области. Размера скана: 75×75 нм.  Дефекты ламеллярной структуры гораздо лучше видны на данных изображениях.








Топографическое изображение и [...]]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/515/c32h66/</link>
			</item>
	<item>
		<title>C28H58</title>
		<description><![CDATA[







 Ламеллярная структура алканового слоя C28H58 на графите. Топография. Размер скана: 100х100 нм. Диапазон по Z 1.3Å.
]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/509/c28h58/</link>
			</item>
	<item>
		<title>Демонстрация быстрого сканирования на 30 мкм скане</title>
		<description><![CDATA[
АСМ сканирование тестовой решетки (шаг 3 мкм, высота 25 нм), полуконтактный метод, резонансная частота кантилевера &#8211; 500 кГц, площадь сканирования 30х30 мкм, 400×400 точек. Скорость сканирование увеличивалась с 2 до 20 линий в секунду!
]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/499/%d0%94%d0%b5%d0%bc%d0%be%d0%bd%d1%81%d1%82%d1%80%d0%b0%d1%86%d0%b8%d1%8f-%d0%b1%d1%8b%d1%81%d1%82%d1%80%d0%be%d0%b3%d0%be-%d1%81%d0%ba%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%80%d0%be%d0%b2%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%8f-2/</link>
			</item>
	<item>
		<title>Демонстрация быстрого сканирования на 12 мкм скане</title>
		<description><![CDATA[
АСМ сканирование тестовой решетки (шаг 3 мкм, высота 25 нм), полуконтактный метод, резонансная частота кантилевера &#8211; 500 кГц, площадь сканирования 12х12 мкм, 300×300 точек. Скорость сканирование увеличивалась с 3 до 30 линий в секунду!
]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/493/%d0%94%d0%b5%d0%bc%d0%be%d0%bd%d1%81%d1%82%d1%80%d0%b0%d1%86%d0%b8%d1%8f-%d0%b1%d1%8b%d1%81%d1%82%d1%80%d0%be%d0%b3%d0%be-%d1%81%d0%ba%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%80%d0%be%d0%b2%d0%b0%d0%bd%d0%b8%d1%8f/</link>
			</item>
	<item>
		<title>Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)</title>
		<description><![CDATA[Исследуйте материалы с помощью сканирующего зондового микроскопа SmartSPM в режиме магнитно-силовой микроскопии!
Особенности:
- Высокоскоростное сканирование больших площадей ( 100х100 мкм) с высоким разрешением;
- Возможность использования оптики с разрешением 1 мкм;
- Измерения в магнитном поле.









Скачать примеры МСМ измерений






]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/480/%d0%9c%d0%b0%d0%b3%d0%bd%d0%b8%d1%82%d0%bd%d0%be-%d1%81%d0%b8%d0%bb%d0%be%d0%b2%d0%b0%d1%8f-%d0%bc%d0%b8%d0%ba%d1%80%d0%be%d1%81%d0%ba%d0%be%d0%bf%d0%b8%d1%8f-%d0%9c%d0%a1%d0%9c/</link>
			</item>
	<item>
		<title>Сертификат об утверждении типа средств измерений</title>
		<description><![CDATA[На основании положительных результатов испытаний утвержден тип микроскопов сканирующих зондовых СмартСПМ-1000 ООО &#8220;АИСТ-НТ&#8221;, г. Зеленоград, который зарегистрирован в Государственном реестре средств измерений под № 39221-08 и допущен к примению в Российской Федерации.

* В случае, если Вас заинтересовала данная информация, мы можем выслать Вам подробное описание типа средства измерений по электронной почте.
]]></description>
		<link>http://www.aist-nt.ru/438/%d0%a1%d0%b5%d1%80%d1%82%d0%b8%d1%84%d0%b8%d0%ba%d0%b0%d1%82-%d0%be%d0%b1-%d1%83%d1%82%d0%b2%d0%b5%d1%80%d0%b6%d0%b4%d0%b5%d0%bd%d0%b8%d0%b8-%d1%82%d0%b8%d0%bf%d0%b0-%d1%81%d1%80%d0%b5%d0%b4%d1%81/</link>
			</item>
</channel>
</rss>
