AIST-NT

  • Entries (RSS)
  • Comments (RSS)
  • Home
  • Продукция
    • SmartSPM™ – сканирующий зондовый микроскоп
      • Технические характеристики SmartSPM
      • Технология быстрого сканирования “MagicScan”
    • OmegaScope™ – СЗМ с конфокальным рамановским и флюоресцентным спектрометром
      • Технические характеристики OmegaScope
    • Расходные материалы для СЗМ
      • Стандартные кантилеверы
      • Кантилеверы для сверхвысокого разрешения
      • Высокоориентированный пиролитический графит (ВОПГ)
    • Расходные материалы, обородувание и услуги в микро- и наноэлектронике
  • Скачать
  • Галерея
  • О компании
    • Информация о нашей компании
    • Наши портреты
    • Телефоны и адреса
    • Схема проезда

Галерея

Биология

Вирусоподобные частицы (virus like particles – VLP)
Вирус мозаики альтернантеры (ВМАльт)
Пептидные фибриллы
ДНК-нуклеосомные комплексы
ДНК
Плазмидная ДНК в буфере
Плазмидная ДНК
Bacillus Cereus
Рибонуклеопротеидные комплексы

Материаловедение
Наночастицы Ag
Алмазное покрытие
Графит (Метод зонда Кельвина)
Кристалл AgNO3
Углеродные нанотрубки
Пленка железоиттриевого граната

Нанолитография
Анодно-окислительная литография на GaAs
Нанолитография на CoCr
Силовая литография
ЛАО на GaAs

Полимеры
C28H58
Алкановый слой C36H74
Алкановый слой C36H74
Полипропиленовая мембрана
Filofocon A
C18H38
Мицеллы
Тонкая пленка полистирола с полиметил-метакрилатом
Сферолиты изотактического полипропилена

Тестовые образцы
Калибровочная решетка
Графит
Жесткий диск

СТМ
СТМ на графите
СТМ на графите

Categories

  • Наша продукция
    • SmartSPM
  • Новости
  • Применения СЗМ
    • Биология
    • Быстрое сканирование
    • Материаловедение
    • Нанолитография
    • Полимеры
    • Раман / TERS
    • Тестовые образцы
  • События

Archives

Ссылки

  • English
  • Веб магазин СЗМ кантилеверов

Новые записи

  • Кристалл AgNO3
  • ХЖКД (холестерическая жидкокристаллическая дисперсия)
  • Поддержка формата AIST-NT в программе Gwyddion
  • Rusnanotech’09
  • C32H66
  • C28H58
  • Демонстрация быстрого сканирования на 30 мкм скане
  • Демонстрация быстрого сканирования на 12 мкм скане
  • Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)
  • Сертификат об утверждении типа средств измерений

Новые комментарии

  • None found

Облако тэгов

    Быстрое сканирование МСМ комбинационное рассеяние магнитно-силовая микроскопия наноманипуляции Gwyddion Raman Rusnanotech SmartSPM TERS Top mode

Copyright © 2010 - AIST-NT is proudly powered by WordPress