Уважаемые господа!

Мы рады сообщить вам, что компания АИСТ-НТ примет участие во Втором международном форуме по нанотехнологиям,  который будет проходить в Москве, в выставочном комплексе “Экспоцентр”, с 6 по 8 октября 2009 г.

На Форуме мы представим наши последние разработки и достижения,  вы сможете проконсультироваться с нашими специалистами по всем интересующим вас вопросам.

Мы будем располагаться на стенде C05, северная сторона (стенд инвестиционной группы “Инкубит”).

Топографическое изображение поверхности ламеллярной структуры алканового слоя C₃₂H₆₆ на графите, полученное с помощью кантилевера fpN01-DLC. Размер скана: 145×145 нм. На изображении ясно видны несколько интересных дефектов на пересечении островков с разной ориентацией.

Два последовательных топографических изображения одной и той же области. Размера скана: 75×75 нм.  Дефекты ламеллярной структуры гораздо лучше видны на данных изображениях.

Топографическое изображение и сечение. Размер скана 50×50 нм. Ширина ламели около 4 нм.

Ламеллярная структура алканового слоя C₂₈H₅₈ на графите. Топография. Размер скана: 100х100 нм. Диапазон по Z 1.3Å.

АСМ сканирование тестовой решетки (шаг 3 мкм, высота 25 нм), полуконтактный метод, резонансная частота кантилевера – 500 кГц, площадь сканирования 30х30 мкм, 400×400 точек. Скорость сканирование увеличивалась с 2 до 20 линий в секунду!

АСМ сканирование тестовой решетки (шаг 3 мкм, высота 25 нм), полуконтактный метод, резонансная частота кантилевера – 500 кГц, площадь сканирования 12х12 мкм, 300×300 точек. Скорость сканирование увеличивалась с 3 до 30 линий в секунду!