 |
SmartSPM™ – сканирующий зондовый микроскоп
|
 |
OmegaScope™ - СЗМ с конфокальным рамановским и флюоресцентным спектрометромУникальная комбинированная система, позволяющая совмещать оптическую спектроскопию с методиками СЗМ. |
 |
Расходные материалы для СЗМБольшой выбор кантилеверов, калибровочных решеток, а также тестовых образцов. |
 |
Расходные материалы, оборудование и услуги в микро- и наноэлектроникеПродукция компании «ЭкоТайм» |
Наша компания желает Вам счастливого Нового года!
- Среда Янв 14,2009 05:22 ПП
- By admin
- In Новости
 Силовая литография на подложке из поликарбоната. |
Научный совет РАН по электронной микроскопии сообщает, что в июне 2009 года в г. Черноголовке Московской области (55 км от Москвы) будет проведен XVI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2009) с участием зарубежных ученых.
Наша компания планирует свое участие в данном мероприятии!
Нанолитография на CoCr
- Среда Янв 14,2009 04:25 ПП
- By admin
- In Нанолитография
Силовая литография
- Среда Янв 14,2009 04:22 ПП
- By admin
- In Нанолитография
 |
Динамическая силовая нанолитография на полимерной пленке. Размер скана: 1,9 х 1,9 мкм.
Анодно-окислительная литография на GaAs
- Среда Янв 14,2009 04:18 ПП
- By admin
- In Нанолитография
 |
Нанолитография на пленке GaAs выполненная методом локального анодного окисления, размер скана 3 микрона.
Рубрики
Архивы
Новые записи
- ХЖКД (холестерическая жидкокристаллическая дисперсия)
- Поддержка формата AIST-NT в программе Gwyddion
- Rusnanotech’09
- C32H66
- C28H58
- Демонстрация быстрого сканирования на 30 мкм скане
- Демонстрация быстрого сканирования на 12 мкм скане
- Магнитно-силовая микроскопия (МСМ)
- Сертификат об утверждении типа средств измерений
- Новые TERS результаты измерения Si/SiO2, полученные на OmegaScope (Nanofinder 30 – AIST-NT AFM)
Новые комментарии
- None found