Расходные материалы для СЗМ

Большой выбор кантилеверов, калибровочных решеток, а также тестовых образцов.

• Стандартные кантилеверы: Бесконтактные, контактные, магнитные, проводящие

• Кантилеверы для сверхвысокого разрешения: Применяются для измерения объектов с высотой до 20 нм с пространственным разрешением до 1 нм

• Графит: Высокоориентированный пиролитический графит (ВОПГ)

• SNOM зонды: зонды для сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (SNOM)

• Тестовые образцы

• Тестовые решетки