Одновременное измерение АСМ топографии, TERS (Tip Enhanced Raman Scattering) и сдвига частот комбинационного рассеяния на образце Si/SiO2 в режиме на отражение.

Скачать результаты TERS в режиме на отражение

*Данные получены на демо системе в компании Tokyo Instruments (Токио).

*Исследования проведены в рамках специальной программы “Research Program on Development of Innovative Technology”, организованной Japan Science and Technology Agency (JST).