<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>AIST-NT &#187; комбинационное рассеяние</title>
	<atom:link href="http://www.aist-nt.ru/tag/%d0%ba%d0%be%d0%bc%d0%b1%d0%b8%d0%bd%d0%b0%d1%86%d0%b8%d0%be%d0%bd%d0%bd%d0%be%d0%b5-%d1%80%d0%b0%d1%81%d1%81%d0%b5%d1%8f%d0%bd%d0%b8%d0%b5/feed/" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>http://www.aist-nt.ru</link>
	<description>Advanced Integrated Tools For Nano Technology</description>
	<lastBuildDate>Wed, 12 May 2010 13:42:42 +0000</lastBuildDate>
	<generator>http://wordpress.org/?v=abc</generator>
	<language>en</language>
	<sy:updatePeriod>hourly</sy:updatePeriod>
	<sy:updateFrequency>1</sy:updateFrequency>
			<item>
		<title>Новые TERS результаты измерения Si/SiO2, полученные на OmegaScope (Nanofinder 30 &#8211; AIST-NT AFM)</title>
		<link>http://www.aist-nt.ru/435/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%b8%d0%b7%d0%bc%d0%b5%d1%80%d0%b5%d0%bd%d0%b8%d1%8f-sisio2-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5/</link>
		<comments>http://www.aist-nt.ru/435/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%b8%d0%b7%d0%bc%d0%b5%d1%80%d0%b5%d0%bd%d0%b8%d1%8f-sisio2-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5/#comments</comments>
		<pubDate>Fri, 10 Apr 2009 15:02:28 +0000</pubDate>
		<dc:creator>yalovenko</dc:creator>
				<category><![CDATA[Применения СЗМ]]></category>
		<category><![CDATA[Раман / TERS]]></category>
		<category><![CDATA[Raman]]></category>
		<category><![CDATA[TERS]]></category>
		<category><![CDATA[комбинационное рассеяние]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.aist-nt.ru/?p=435</guid>
		<description><![CDATA[Одновременное измерение АСМ топографии, TERS (Tip Enhanced Raman Scattering) и сдвига частот комбинационного рассеяния на образце Si/SiO2 в режиме на отражение.
Скачать результаты TERS в режиме на отражение
*Данные получены на демо системе в компании Tokyo Instruments (Токио).
*Исследования проведены в рамках специальной программы &#8220;Research Program on Development of Innovative Technology&#8221;, организованной Japan Science and Technology Agency (JST).
]]></description>
		<wfw:commentRss>http://www.aist-nt.ru/435/%d0%9d%d0%be%d0%b2%d1%8b%d0%b5-ters-%d1%80%d0%b5%d0%b7%d1%83%d0%bb%d1%8c%d1%82%d0%b0%d1%82%d1%8b-%d0%b8%d0%b7%d0%bc%d0%b5%d1%80%d0%b5%d0%bd%d0%b8%d1%8f-sisio2-%d0%bf%d0%be%d0%bb%d1%83%d1%87%d0%b5/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
	</channel>
</rss>
