Одновременное измерение АСМ топографии, TERS (Tip Enhanced Raman Scattering) и сдвига частот комбинационного рассеяния на образце Si/SiO2 в режиме на отражение.

Скачать результаты TERS в режиме на отражение

*Данные получены на демо системе в компании Tokyo Instruments (Токио).

*Исследования проведены в рамках специальной программы “Research Program on Development of Innovative Technology”, организованной Japan Science and Technology Agency (JST).

Режим: на просвет
Условия измерения:
Лазер: 632.8 nm, мощность на образце менее 1 мВт;
AFM: бесконтактный режим, амплитуда колебаний кантилевера 7 нм;
Время экспозиции – 0.1 с/точку;
Зонд:  СЗМ зонд с напылением золота.

*Результаты получены на демо системе в офисе компании Tokyo Instruments Inc.

Скачать результаты TERS (режим на просвет)